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  • 产品中心

    Product Center

    IR孔透过率测试仪

    产品简介

    IR孔透过率测试仪是一套全波长的0度角透过率检测仪,能快速准确地测量各类平面光学元件的透光率,可用于实时在线检测,实现产品全检。适用于棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面光学元件的检测。

    产品型号:DMS-2
    更新时间:2024-10-29
    厂商性质:生产厂家
    访问量:2970
    详细介绍在线留言
    品牌其他品牌价格区间面议
    产地类别国产应用领域电子/电池,包装/造纸/印刷,汽车及零部件,电气,综合
      简介
     
      IR孔透过率测试仪是一套全波长的0度角透过率检测仪,能快速准确地测量各类平面光学元件的透光率,可用于实时在线检测,实现产品全检。适用于棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面光学元件的检测。
     
      特点
     
      智能化软件操作:可自定义测量方式和角度,实时显示测量样品关注波长位置的透/反射率数据,自动调整显示坐标范围,高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。
     
      谱图管理:IR孔透过率测试仪可同时记录多达20个样品谱图,批量保存测量结果,记录谱图测试积分时间,能对谱图进行更名、定义颜色、选择是否显示、加粗等操作,尽可能地方便了谱图的管理和分析。
     
      自定义测量方案:用户可以自行定义测量的方案,同时设置判定标准,使检测更快速,结果更准确。
     
      谱图数据处理功能:备有丰富的光学元件数据库,可根据数据库已存标准数据对比分析结果,用户可自行对数据库进行添加、修改和删除,还可将测量数据导入Excel有利于进一步对谱图进行分析和研究。
     
      CIE颜色测量功能:可以计算样品各种CIE颜色参数,x,y,L,a,b,饱和度,主波长等。
     
      数据报告打印功能:可快速批量打印样品测量数据及谱图,自定义测量报告出具单位名称。
     
      技术参数
     
      型号DMS(1型)DMS(2型)
     
      探测器Sony线形CCD阵列Hamamatsu背照式2D-CCD
     
      检测范围380-1000nm360-1100nm
     
      波长分辨率1nm1nm
     
      信噪比(全信号)250:11000:1
     
      相对检测误cha﹤0。5%(400-800nm)﹤0。2%(400-800nm)
     
      单次测量时间﹤1s
     
      样品尺寸≥Φ1mm
     
      操作系统/接口WindowsXP,WindowsVista/USB2。0
     
      电源/功率220V-50HZ/6W
     

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